聯用技術 電鏡基礎知識 操作技巧 |
聯用技術
為了打破傳統電鏡分析存在的局限性，TESCAN提出并推廣電鏡聯用技術，首創了“ALL IN ONE顯微綜合分析平臺”的理念，除了可以在TESCAN電鏡平臺上安裝EDX, EBSD,CL等設備，還可以將拉曼分析、飛行時間二次離子質譜分析等集成到了電鏡上，從而形成一款集多種分析功能于一體的綜合電鏡分析平臺，它能夠提供二維、三維、四維動態的高分辨形貌觀測、成分分析、微量輕元素檢測及化學結構解析，從宏觀到微觀的多尺度給出分析解決方案。
FIB-SEM小知識—氣體注入系統
Basic Knowledge
FIB-SEM雙束電鏡不僅僅是將聚焦離子束與掃描電鏡集成于一體，更重要的是通過集成其他輔助系統使FIB-SEM的加工及分析功能更加豐富。其中，氣體注入系統GIS是FIB-SEM的基本配置之一，GIS在FIB-SEM中起著非常重要的作用......
加速電壓如何選擇？
Application Tips
掃描電鏡在使用過程中有許多參數可變，從而實現不同的工作條件，達到不同的拍攝目的。每臺掃描電鏡在出廠時都分別給出了高加速電壓和低加速電壓下的分辨率。眾所周知，加速電壓越高，掃描電鏡具有越高的分辨率。那是不是對于任何試樣都是加速電壓越高越好？
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