聯(lián)用技術(shù) 電鏡基礎(chǔ)知識(shí) 操作技巧 |
聯(lián)用技術(shù)
為了打破傳統(tǒng)電鏡分析存在的局限性，TESCAN提出并推廣電鏡聯(lián)用技術(shù)，首創(chuàng)了“ALL IN ONE顯微綜合分析平臺(tái)”的理念，除了可以在TESCAN電鏡平臺(tái)上安裝EDX, EBSD,CL等設(shè)備，還可以將拉曼分析、飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析等集成到了電鏡上，從而形成一款集多種分析功能于一體的綜合電鏡分析平臺(tái)，它能夠提供二維、三維、四維動(dòng)態(tài)的高分辨形貌觀(guān)測(cè)、成分分析、微量輕元素檢測(cè)及化學(xué)結(jié)構(gòu)解析，從宏觀(guān)到微觀(guān)的多尺度給出分析解決方案。
FIB-SEM小知識(shí)—?dú)怏w注入系統(tǒng)
Basic Knowledge
FIB-SEM雙束電鏡不僅僅是將聚焦離子束與掃描電鏡集成于一體，更重要的是通過(guò)集成其他輔助系統(tǒng)使FIB-SEM的加工及分析功能更加豐富。其中，氣體注入系統(tǒng)GIS是FIB-SEM的基本配置之一，GIS在FIB-SEM中起著非常重要的作用......
加速電壓如何選擇？
Application Tips
掃描電鏡在使用過(guò)程中有許多參數(shù)可變，從而實(shí)現(xiàn)不同的工作條件，達(dá)到不同的拍攝目的。每臺(tái)掃描電鏡在出廠(chǎng)時(shí)都分別給出了高加速電壓和低加速電壓下的分辨率。眾所周知，加速電壓越高，掃描電鏡具有越高的分辨率。那是不是對(duì)于任何試樣都是加速電壓越高越好？
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